Análisis de tensión/tamaño en compuestos ternarios AgIn5VI8 (VI = S, Se, Te) mediante difracción de Rayos-x
En este trabajo estudiamos las propiedades microestructurales de compuestos ternarios AgIn5VI8 (VI= S, Se, Te) mediante la técnica de Difracción de Rayos-X (DRX). El ancho de línea del perfil de DRX es medido como función del ángulo de difracción. Los parámetros microestructurales, tales como, el tamaño medio de grano, microtensión y densidad de dislocaciones cristalinas, son obtenidos a partir de un análisis de Tensión/Tamaño basado en la ecuación modificada de Scherrer para perfiles Gaussianos. La distribución de las dislocaciones cristalinas corresponde a la cola de una función de Gaussiana, indicando que estas conforman arreglos aleatorios en los granos.
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| Main Authors: | , , , |
|---|---|
| Format: | Digital revista |
| Language: | Spanish / Castilian |
| Published: |
Sociedad Mexicana de Física
2017
|
| Online Access: | http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2017000400345 |
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| Summary: | En este trabajo estudiamos las propiedades microestructurales de compuestos ternarios AgIn5VI8 (VI= S, Se, Te) mediante la técnica de Difracción de Rayos-X (DRX). El ancho de línea del perfil de DRX es medido como función del ángulo de difracción. Los parámetros microestructurales, tales como, el tamaño medio de grano, microtensión y densidad de dislocaciones cristalinas, son obtenidos a partir de un análisis de Tensión/Tamaño basado en la ecuación modificada de Scherrer para perfiles Gaussianos. La distribución de las dislocaciones cristalinas corresponde a la cola de una función de Gaussiana, indicando que estas conforman arreglos aleatorios en los granos. |
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