Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica.
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| Published: |
2012-09-14
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| Subjects: | Microcontrolador, Microscopia de força atômica (AFM), PIC., Umidade, Temperatura., |
| Online Access: | http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/933733 |
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dig-alice-doc-9337332017-08-15T23:40:17Z Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica. SANDOVAL, R. D.; STEFFENS, C.; VENDRAMINI, G. HERRMANN, P. S. P. PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA. Microcontrolador Microscopia de força atômica (AFM) PIC. Umidade Temperatura. 2013-03-26T23:38:05Z 2013-03-26T23:38:05Z 2012-09-14 2012 2018-10-17T11:11:11Z Separatas In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 48-49. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso. 2175-8395 http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/933733 pt_BR por openAccess |
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Microcontrolador Microscopia de força atômica (AFM) PIC. Umidade Temperatura. Microcontrolador Microscopia de força atômica (AFM) PIC. Umidade Temperatura. SANDOVAL, R. D.; STEFFENS, C.; VENDRAMINI, G. HERRMANN, P. S. P. Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica. |
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