Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica.
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| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Separatas biblioteca |
| Language: | pt_BR por |
| Published: |
2012-09-14
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| Subjects: | Microcontrolador, Microscopia de força atômica (AFM), PIC., Umidade, Temperatura., |
| Online Access: | http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/933733 |
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