Masking Level Difference: avaliação da confiabilidade teste-reteste em estudantes universitárias normo-ouvintes

RESUMO Objetivo Verificar a confiabilidade teste-reteste do Masking Level Difference em estudantes universitárias normo-ouvintes. Método Estudo prospectivo descritivo com 78 adultos jovens do gênero feminino sem queixas auditivas, submetidas à versão, em compact disc, do Masking Level Difference da Auditec of Saint Louis. O Masking Level Difference foi determinado por meio da diferença entre as relações sinal-ruído nos limiares auditivos encontrados nas condições antifásica e homofásica. O teste foi aplicado pelo mesmo examinador em dois momentos (teste e reteste) com intervalo de sete a 14 dias entre eles. A análise estatística inferencial incluiu comparação das situações teste e reteste por meio do teste t de Student para amostras pareadas, cálculo do coeficiente de correlação intraclasse e dos intervalos de confiança de 95% para as relações sinal/ruído nos limiares auditivos nas condições antifásica e homofásica e para o cálculo do Masking Level Difference. Resultados A média da relação sinal-ruído no limiar auditivo na condição homofásica foi -12,59 dB e -12,46 dB nas situações teste e reteste, respectivamente, e -21,54 dB e -21,08 dB na condição antifásica. A média do Masking Level Difference foi 8,95 dB no teste e 8,74 dB no reteste. Os coeficientes de correlação intraclasse obtidos foram 0,436, 0,625 e 0,577 para as condições homofásica, antifásica e Masking Level Difference, respectivamente. Conclusão O teste Masking Level Difference mostrou grau moderado de confiabilidade teste-reteste em estudantes universitárias normo-ouvintes.

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Bibliographic Details
Main Authors: Frota,Silvana Maria Monte Coelho, Leite Filho,Carlos Alberto, Bruno,Carolina Salomone, Carvalho,Lanna Borges, Riegel,Natalia Almeida, Souza,Sascha Ariel da Silva Rodrigues de, Branco-Barreiro,Fátima Cristina Alves
Format: Digital revista
Language:Portuguese
Published: Sociedade Brasileira de Fonoaudiologia 2022
Online Access:http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S2317-17822022000300302
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