Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi 2 Mo x W 1-x O 6

Resumen La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta resolución de los estándares de MoO3, WO3 y Bi2O3. El estado de oxidación de oxígeno no cambia en los estándares; por lo tanto se toma como referencia el factor de sensibilidad del oxígeno. Se obtienen los factores de sensibilidad XPS para Mo, W y Bi; y a continuación se hace uso de estos para la cuantificación de los catalizadores de Bi2MoxW1-xO6. También se determinan los compuestos que se forman en estos catalizadores.

Bibliographic Details

Main Authors:	Bartolo-Pérez,P., Peña,J.L., Rangel,R., Manzanilla,A., Riech,I.
Format:	Digital revista
Language:	Spanish / Castilian
Published:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2005
Online Access:	http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1665-35212005000400013
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!