Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría optica de baja coherencia
La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una informacion precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes.
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| Main Authors: | , , , |
|---|---|
| Format: | Digital revista |
| Language: | Spanish / Castilian |
| Published: |
Sociedad Mexicana de Física
2006
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| Online Access: | http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2006000400014 |
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