Mapa de aplicaciones estadísticas en la política Lean Six Sigma de la empresa

En la actualidad muchas empresas industriales de tipo manufactureras, aplican la cultura de trabajo denominada Lean Six Sigma, la cual constituye una combinación de los métodos de la estadística aplicado al Control de la Calidad, más dos filosofías prácticas de trabajo conocidas como Six Sigma y Lean Manufacturing. El objetivo del presente trabajo es ubicar los diferentes métodos de la estadística en las diferentes instancias que corresponden a un modelo genérico de producción de una empresa que aplique una política Lean Six Sigma, en otras palabras, presentar un “mapeo” de la empresa que puntualice las diferentes aplicaciones metodológicas destacando las relaciones entre los diferentes procedimientos. Para cumplir los objetivos se tuvieron cuenta: En el Control Estadístico de la Calidad, surgen como principales “herramientas” a) el control de recepción por muestreo, b) los diversos diagramas de control, c) los estudios de capacidad, d) la metrología para estudiar los errores de los sistemas de medición, e) los problemas del costo de la mejora de la calidad, etc., que corresponden a tareas que asiduamente son llevadas a cabo bajo la supervisión y/o de ejecución de un departamento de Calidad. Six Sigma, es una filosofía enfocada al mejoramiento continuo de la calidad fundamentalmente llevando a cabo políticas de acción conocida como DMIAC (Definir, Medir, Analizar, Mejorar y Controlar) y la medición del nivel de la calidad en cantidad de Sigmas que se le adjudica a cada empresa. Lean Manufacturing también tiene un número importante de acciones tendientes a la eliminación desperdicios, la Muda según el término japonés, entre ellas: Just in Time, Kaizen, TPM, SMED, Jidoka, Poka Yoke, Heijunka, Kamban, Estandardización, etc.

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Bibliographic Details
Main Authors: Rodriguez, Norberto Vicente, Loiacono, Karina Valeria
Format: video biblioteca
Language:spa
Published: 2020-10
Subjects:Six Sigma, Lean Manufacturing, DMIAC, Just in time, Stock,
Online Access:http://hdl.handle.net/11086/16876
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