Portamuestras para microanálisis de rayos X con microscopía electrónica de barrido

Portamuestras para microanálisis de rayos X con microscopía electrónica de barrido. La invención describe un nuevo portamuestras (1) para microanálisis de rayos X que evita interferencias entre las señales de la muestra y las señales del propio portamuestras (1), y que comprende una base (2) sobre la que se apoyan unas columnas (3a, 3b, 3c) que soportan una estructura (4) de soporte, preferentemente un cilindro cuyo extremo superior tiene una tapa (5) con un orificio central (6) sobre la que se coloca una rejilla que contiene la muestra.

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Bibliographic Details
Main Authors: Fortuño Alós, José Manuel, Segura i Noguera, María del Mar
Format: patente biblioteca
Language:Spanish / Castilian
Published: 2011-04-27
Online Access:http://hdl.handle.net/10261/40730
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