Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.
Saved in:
| Main Authors: | , , , , |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Separatas biblioteca |
| Language: | pt_BR por |
| Published: |
2009-11-26
|
| Subjects: | CONGRESSO, |
| Online Access: | http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/576352 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|