Elektronenmikroskopische Methodik [electronic resource] /

1. Elektronenstrahlen -- 2. Einführung in die Theorie des Mikroskopes -- 2.1. Wechselwirkung zwischen Strahlung und Materie -- 2.2. Die Bildentstehung im Durchstrahlungsmikroskop -- 3. Beugung am Raumgitter -- 3.1. Geometrische Theorie -- 3.2. Anwendung der geometrischen Theorie auf Röntgen- und Elektronenstrahlen -- 3.3. Intensität der Beugungsreflexe -- 3.4. Aufnahmeverfahren -- 3.5. Auswertung von Beugungsaufnahmen -- 3.6. Oberflächenbeugung -- 4. Beugungskontraste -- 4.1. Allgemeines -- 4.2. Interferenzschlieren oder Extinktionslinien -- 4.3. Streifen gleicher Neigung und Dicke -- 4.4. Gitterfehler -- 4.5. Moiré-Muster -- 4.6. Ausblick auf die dynamische Theorie -- 5. Auflösungsgrenze, Gesichtsfeld und Schärfentiefe -- 5.1. Die Auflösungsgrenze -- 5.2. Das Gesichtsfeld -- 5.3. Die Schärfentiefe -- 6. Abdruckverfahren -- 6.1. Der Abdruck als Abbildung -- 6.2. Kontrastverhältnisse -- 6.3. Schrägbedampfung (Beschattung) -- 6.4. Herstellung der wichtigsten Abdrucke -- 6.5. Auflösungsgrenze von Abdruckpräparaten -- 6.6. Anwendungsbeispiele -- 6.7. Zielpräparationen -- 6.8. Dekorationsverfahren -- 7. Zeitauflösung -- 8. Kombination von Beobachtungsverfahren -- 8.1. Grundsätzliches -- 8.2. Beispiele -- 9. Korngrößen und Korngrößenverteilungen -- 9.1. Mikroskopische Korngrößenanalysen -- 9.2. Einfluß des Präparationsverfahrens -- 9.3. Darstellung der Ergebnisse und Fehlerbetrachtung -- 9.4. Das Tomatensalat-Problem -- 9.5. Nichtmikroskopische Verfahren zur Korngrößenbestimmung -- 10. Artefakte und Strahlschäden -- 10.1. Artefakte -- 10.2. Strahlschäden -- Literatur.

Bibliographic Details

Main Authors:	Schimmel, G. author., SpringerLink (Online service)
Format:	Texto biblioteca
Language:	ger
Published:	Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1969
Subjects:	Engineering., Physics., Engineering, general., Physics, general.,
Online Access:	http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-92986-1
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