De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales

De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales

RESUMEN: En las últimas décadas, las técnicas de microscopía electrónica (EM) y microscopía de barrido por sonda (SPM) han contribuido enormemente al estudio de nanomateriales en muchos campos de investigación, dando información de propiedades morfológicas, estructurales, de superficie, eléctricas y magnéticas, entre muchas otras. Los avances tecnológicos recientes asociados con estas técnicas han permitido alcanzar límites de resolución espacial que hace 25 años era inimaginables, siendo los últimos valores reportados de decenas de picómetros (10-12 m). Adicionalmente, estas técnicas han crecido en sus capacidades de análisis en el campo de las nanociencias y nanotecnología, dando lugar a otras microscopías independientes, o incluso complementarias, que han contribuido al entendimiento de fenómenos de interacción y propiedades fisicoquímicas a escalas atómicas y moleculares. En este articulo, se hace un análisis de la trascendencia actual que tienen las técnicas de microscopía electrónica y de microscopia de barrido por sonda, y se mencionan brevemente algunos de sus alcances actuales como métodos de caracterización y análisis. Finalmente, se señalan algunas retos, así como perspectivas, en cuanto a su enorme potencial para impulsar el estudio y entendimiento de procesos físicos y químicos a nanoescala.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Rivera,Margarita, Arenas-Alatorre,Jesús
Format: Digital revista
Language:Spanish / Castilian
Published: Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología 2019
Online Access:http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S2448-56912019000200301
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
id oai:scielo:S2448-56912019000200301
record_format ojs
spelling oai:scielo:S2448-569120190002003012020-06-11De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomaterialesRivera,MargaritaArenas-Alatorre,Jesús microscopía electrónica de barrido microscopía electrónica de barrido de emisión de campo microscopía electrónica de transmisión campo oscuro anular a ángulo grande en alta resolución microscopía electrónica de transmisión de barrido microscopía de fuerza atómica microscopía de efecto tunel espectroscopía de tunelamiento de barrido microscopía de fuerza magnética RESUMEN: En las últimas décadas, las técnicas de microscopía electrónica (EM) y microscopía de barrido por sonda (SPM) han contribuido enormemente al estudio de nanomateriales en muchos campos de investigación, dando información de propiedades morfológicas, estructurales, de superficie, eléctricas y magnéticas, entre muchas otras. Los avances tecnológicos recientes asociados con estas técnicas han permitido alcanzar límites de resolución espacial que hace 25 años era inimaginables, siendo los últimos valores reportados de decenas de picómetros (10-12 m). Adicionalmente, estas técnicas han crecido en sus capacidades de análisis en el campo de las nanociencias y nanotecnología, dando lugar a otras microscopías independientes, o incluso complementarias, que han contribuido al entendimiento de fenómenos de interacción y propiedades fisicoquímicas a escalas atómicas y moleculares. En este articulo, se hace un análisis de la trascendencia actual que tienen las técnicas de microscopía electrónica y de microscopia de barrido por sonda, y se mencionan brevemente algunos de sus alcances actuales como métodos de caracterización y análisis. Finalmente, se señalan algunas retos, así como perspectivas, en cuanto a su enorme potencial para impulsar el estudio y entendimiento de procesos físicos y químicos a nanoescala.info:eu-repo/semantics/openAccessUniversidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Ciencias Aplicadas y TecnologíaMundo nano. Revista interdisciplinaria en nanociencias y nanotecnología v.12 n.23 20192019-12-01info:eu-repo/semantics/articletext/htmlhttp://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S2448-56912019000200301es10.22201/ceiich.24485691e.2019.23.67334
institution SCIELO
collection OJS
country México
countrycode MX
component Revista
access En linea
databasecode rev-scielo-mx
tag revista
region America del Norte
libraryname SciELO
language Spanish / Castilian
format Digital
author Rivera,Margarita
Arenas-Alatorre,Jesús
spellingShingle Rivera,Margarita
Arenas-Alatorre,Jesús
De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
author_facet Rivera,Margarita
Arenas-Alatorre,Jesús
author_sort Rivera,Margarita
title De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
title_short De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
title_full De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
title_fullStr De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
title_full_unstemmed De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
title_sort de los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
description RESUMEN: En las últimas décadas, las técnicas de microscopía electrónica (EM) y microscopía de barrido por sonda (SPM) han contribuido enormemente al estudio de nanomateriales en muchos campos de investigación, dando información de propiedades morfológicas, estructurales, de superficie, eléctricas y magnéticas, entre muchas otras. Los avances tecnológicos recientes asociados con estas técnicas han permitido alcanzar límites de resolución espacial que hace 25 años era inimaginables, siendo los últimos valores reportados de decenas de picómetros (10-12 m). Adicionalmente, estas técnicas han crecido en sus capacidades de análisis en el campo de las nanociencias y nanotecnología, dando lugar a otras microscopías independientes, o incluso complementarias, que han contribuido al entendimiento de fenómenos de interacción y propiedades fisicoquímicas a escalas atómicas y moleculares. En este articulo, se hace un análisis de la trascendencia actual que tienen las técnicas de microscopía electrónica y de microscopia de barrido por sonda, y se mencionan brevemente algunos de sus alcances actuales como métodos de caracterización y análisis. Finalmente, se señalan algunas retos, así como perspectivas, en cuanto a su enorme potencial para impulsar el estudio y entendimiento de procesos físicos y químicos a nanoescala.
publisher Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología
publishDate 2019
url http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S2448-56912019000200301
work_keys_str_mv AT riveramargarita delosmicrometrosalospicometrosevoluciondelastecnicasdemicroscopiaparaelestudiodenanomateriales
AT arenasalatorrejesus delosmicrometrosalospicometrosevoluciondelastecnicasdemicroscopiaparaelestudiodenanomateriales
_version_ 1756231750261932032

Similar Items