Estudos por µXRF-Sincrotron de fluidos mineralizadores detectados em minérios uraníferos, ferríferos e depósitos epitermais
O método de análise não-destrutivo denominado Microfluorescência de Raios X. (µSXRF, radiação Sincrotron) tem sido utilizado recentemente em laboratórios de luz Sincrotron de vários países para identificar e, em situações especiais, quantificar elementos menores, maiores e traços em inclusões fluidas. Com esse intuito, a estação de µSXRF do LNLS (Laboratório Nacional de Luz Sincrotron, Campinas) foi utilizada para desenvolver estudos composicionais de inclusões fluidas em minerais transparentes (quartzo, adulária, esmeralda, piroxênio) de diferentes jazidas minerais e minérios opacos de Ag e Fe.
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Escola de Minas
2006
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oai:scielo:S0370-446720060004000042007-02-08Estudos por µXRF-Sincrotron de fluidos mineralizadores detectados em minérios uraníferos, ferríferos e depósitos epitermaisRios,Francisco JavierFuzikawa,KazuoAlves,James VieiraGonçalves,Rhaine MatosChaves,Alexandre de OliveiraSouza,André Moreira deChaves,Adriana Mônica Dalla VecchiaPereira,Ana Rosa PassosLima,Tatiana Aparecida Fernandes deNeves,José Marques CorreiaPérez,Carlos AlbertoGuillot,Maurício GonzalezMattos,Evando CarelleRosiére,Carlos Alberto Luz Sincrotron (µSXRF) inclusões fluidas minérios O método de análise não-destrutivo denominado Microfluorescência de Raios X. (µSXRF, radiação Sincrotron) tem sido utilizado recentemente em laboratórios de luz Sincrotron de vários países para identificar e, em situações especiais, quantificar elementos menores, maiores e traços em inclusões fluidas. Com esse intuito, a estação de µSXRF do LNLS (Laboratório Nacional de Luz Sincrotron, Campinas) foi utilizada para desenvolver estudos composicionais de inclusões fluidas em minerais transparentes (quartzo, adulária, esmeralda, piroxênio) de diferentes jazidas minerais e minérios opacos de Ag e Fe.info:eu-repo/semantics/openAccessEscola de MinasRem: Revista Escola de Minas v.59 n.4 20062006-12-01info:eu-repo/semantics/articletext/htmlhttp://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0370-44672006000400004pt10.1590/S0370-44672006000400004 |
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