Relación entre la composición química y el volumen atómico en soluciones sólidas Ag- x % at Zn (x ≤ 20)

Este trabajo tuvo como objetivo estudiar la relación existente entre la composición química y el volumen atómico en el sistema Ag - x % at Zn (x ≤ 20). Para este fin, se fabricaron 10 soluciones sólidas mediante fundición y aleado mecánico. La caracterización microestructural se llevó a cabo utilizando difracción de rayos-X. El parámetro reticular fue calculado mediante el método de Rietveld, mientras que la composición química se determinó utilizando espectroscopia de energía dispersiva de rayos-X. En base a los resultados obtenidos se puede concluir que existe una relación lineal inversa entre el volumen atómico de la solución sólida y su contenido Zn, presentando una desviación negativa de la ley de Vegard (-2,96%). Adicionalmente, se propuso una ecuación que vincula el contenido de Zn con el volumen atómico de la solución sólida, la cual presentó un error promedio de predicción menor al 12%.

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Main Authors: Guzmán,Danny, Aguilar,Claudio, Serafini,Daniel, Rojas,Paula, Ordoñez,Stella, Olivares-Pacheco,Juan F.
Format: Digital revista
Language:Spanish / Castilian
Published: Universidad Nacional de Colombia 2014
Online Access:http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0012-73532014000200019
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spelling oai:scielo:S0012-735320140002000192014-12-02Relación entre la composición química y el volumen atómico en soluciones sólidas Ag- x % at Zn (x ≤ 20)Guzmán,DannyAguilar,ClaudioSerafini,DanielRojas,PaulaOrdoñez,StellaOlivares-Pacheco,Juan F. Solución sólida volumen atómico aleaciones Ag-Zn difracción de rayos X composición química Este trabajo tuvo como objetivo estudiar la relación existente entre la composición química y el volumen atómico en el sistema Ag - x % at Zn (x ≤ 20). Para este fin, se fabricaron 10 soluciones sólidas mediante fundición y aleado mecánico. La caracterización microestructural se llevó a cabo utilizando difracción de rayos-X. El parámetro reticular fue calculado mediante el método de Rietveld, mientras que la composición química se determinó utilizando espectroscopia de energía dispersiva de rayos-X. En base a los resultados obtenidos se puede concluir que existe una relación lineal inversa entre el volumen atómico de la solución sólida y su contenido Zn, presentando una desviación negativa de la ley de Vegard (-2,96%). Adicionalmente, se propuso una ecuación que vincula el contenido de Zn con el volumen atómico de la solución sólida, la cual presentó un error promedio de predicción menor al 12%.info:eu-repo/semantics/openAccessUniversidad Nacional de ColombiaDYNA v.81 n.184 20142014-04-01info:eu-repo/semantics/articletext/htmlhttp://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0012-73532014000200019es10.15446/dyna.v81n184.35170
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