Uso de análisis de componentes principales para el estudio de la estructura fina de espectros de dispersión Raman resonante de rayos X
Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física, 2014.
Saved in:
Main Author: | Robledo, José Ignacio |
---|---|
Other Authors: | Sánchez, Héctor Jorge |
Format: | bachelorThesis biblioteca |
Language: | spa |
Published: |
2014-03
|
Subjects: | Análisis multivariado, Espectros de rayos X, Dispersión elástica e inelástica, Caracterización estructural, Métodos multivariados, Multivariate analysis, X-ray spectra, Elastic and inelastic scattering, X and gamma-ray spectroscopy, |
Online Access: | http://hdl.handle.net/11086/551534 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items
-
Avances en espectroscopía por dispersión inelástica resonante de rayos X en baja y alta resolución
by: Robledo, José Ignacio
Published: (2019-02) -
Estudio de procesos (1s, 2p3/2) y (1s 2p1/2) en el espectro Raman resonante de rayos x de alta resolución en Titanio
by: Bianco, Leonardo Martín
Published: (2010-03) -
Excitaciones electrónicas en LiH por dispersión inelástica de rayos X
by: Paredes Mellone, Oscar Ariel
Published: (2018-03-28) -
Construction of a quartz spherical analyzer : application to high-resolution analysis of the Ni Ka emission spectrum
by: Hönnicke, Marcelo Gonçalves, et al.
Published: (2016) -
Determinación de secciones eficaces y probabilidades de transición en capas atómicas internas mediante microsonda de electrones
by: Sepúlveda Peñaloza, Andrés Humberto
Published: (2017-03)