Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos

Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos

Fil: Olsson, Jorge Alberto. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina.

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Main Authors: Olsson, Jorge Alberto, Trochez, Oscar Dionisio, López, Jorge Luis, Santiago, Lea Vanessa, Anocibar, Héctor Rolando, Kurtz, Víctor Hugo
Format: info:eu-repo/semantics/article biblioteca
Language:spa
Published: Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica
Subjects:Estrés en capacitores, Fallas por descargas electrostáticas, Fuentes conmutadas, Fuentes switching, Vida útil del capacitor, Stress in capacitors, Electrostatic discharge failures, Switched sources, Switching fonts, Capacitor service life,
Online Access:https://hdl.handle.net/20.500.12219/3220
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https://hdl.handle.net/20.500.12219/3220

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