Preparo de amostras para observação de nanoestruturas em microscópio eletrônico de varredura acoplado a detector STEM.
Neste trabalho, apresenta-se a técnica de visualização de nanoestruturas dispersas em solução, não condutoras e de difícil contraste, aplicando-se a contrastação negativa como realce sob detector ‘STEM’ acoplado ao MEV convencional, com filamento de tungstênio e coluna submetida a alto vácuo.
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| Main Authors: | , , |
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| Format: | Folhetos biblioteca |
| Language: | pt_BR por |
| Published: |
2019
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| Subjects: | Visualização de nanoestruturas, Microscopia Eletrônica, |
| Online Access: | http://www.infoteca.cnptia.embrapa.br/infoteca/handle/doc/1109231 |
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