Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.
La Difractometría de Rayos X (DRX) es el método más efectivo para la determinación y reconocimiento de materiales cristalinos en suelos. Sin embargo, la obtención de difractogramas bien definidos es normalmente dificultosa en ciertos suelos de contenidos de arcilla relativamente bajos.
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Artículo de revista biblioteca |
| Language: | Spanish / Castilian |
| Published: |
2015-05-18T19:00:19Z
|
| Subjects: | Difractometría de Rayos X, Cristales, Suelos, Metodología, Arcilla, Recursos del suelo, |
| Online Access: | https://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/29103 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|